手機：15322932685
郵箱：dg@huanyi-group.com
QQ：2796909969
地址：廣東省東莞市東坑鎮龍坑興業路3號
為了研究FLASH芯片的壞區增長與擦寫次數為怎樣的關系，目前尚未有實際實物參照數據。下面使用Flash器件高低溫擦寫性能試驗箱，通過FLASH芯片壽命試驗，在地
為了研究Flash存儲器在不同溫度下的性能變化的機理和溫變規律，評估其空間應用的可行性，為Flash器件在空間型號任務的應用提供試驗依據和改進建議。在溫變規律研
Flash高低溫試驗箱可用于研究Flash存儲器在不同溫度下的性能變化的機理和溫變規律，評估其空間應用的可行性，為Flash器件在空間型號任務的應用提供試驗依據
EMMC高低溫循環試驗箱可針對NAND Flash、UFS芯片進行高速、高低溫度范圍的全功能動態老化測試。針對集成NAND和Controller的模組芯片（例如
eMMC存儲芯片高低溫老化箱可對eMMC（EmbeddedMulti Media Card，嵌入式多媒體卡）、SSD（Solid State Disk，固態硬盤
eMMC高低溫試驗箱是一款專門針對eMMC、UFS、eMCP等顆粒存儲芯片進行高低溫老化的設備。設備采用可程式系統控制，能夠同時支持大批量芯片同步老化測試，腔體
整車濕熱環境試驗室用于模擬自然環境中的高低溫、濕度變化，對汽車及其零部件進行耐候性測試。試驗室通過控制溫度、濕度和氣壓等環境參數，考察整車在不同環境條件下的適應
汽車濕熱循環實驗是模擬汽車工作過程中，因高濕度環境導致的溫度交變循環，其實驗機理是濕熱的腐蝕作用，濕熱環境還會對材料的機械性能和化學性能產生影響，如體積膨脹、機
微信掃一掃
